非柱状単位層構造を有する層状III族モノカルコゲナイド薄膜のMBE成長 米澤隆宏, 村上達也, 東嶺孝一, CHEN Tongmin, 新田寛和, 久瀬雷矢, FLEURENCE Antoine, 大島義文, 高村(山田)由起子
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 67th, -, 2020
電子線を利用したグラフェンへのナノポア作製 Zhang Xiaobin, Muruganathan Manoharan, 水谷加奈子, Schmidt Marek E., 水田博, 大島義文
日本表面真空学会学術講演会要旨集(Web), 2019, -, 2019
鉄におけるC15同素体の生成と成長 松原隆弥, 荒井重勇, MARINICA Mihai-Cosmin, WILLAIME Francois, DUDAREV Sergei, 網野岳文, ALEXANDER Rebecca, MESLIN Estelle, OLSSON Paer, ZHANG Yongfeng, 大島義文, 山本悠太, 樋口公考, 田中信夫, 荒河一渡
日本鉄鋼協会中国四国支部・日本金属学会中国四国支部講演大会講演概要集, 62nd-59th, -, 2019
透過電子顕微鏡その場観察によるグラフェンナノリボン電気伝導計測 大久保諒, LIU Chunmeng, ZHANG Xiaobin, SCHMIDT Marek. E, MURUGANATHAN Manoharan, 水田博, 大島義文
日本表面真空学会学術講演会講演要旨集, 2018, 191-, 2018
サスペンデッドグラフェンナノリボンのデバイス構造の作製 水谷加奈子, ZHANG Xiaobin, SCHMIDT Marek E., MURUGANATHAN Manoharan, 水田博, 水田博, 大島義文
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 78th, -, 2017
27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)) 李 少淵, 大島 義文, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 67, 1, 1012-1012, 2012
21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)) 李 少淵, 大島 義文, 沢田 英敬, 近藤 行人, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 66, 2, 970-970, 2011
27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)) 李 少淵, 大島 義文, 沢田 英敬, 奥西 栄治, 近藤 行人, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 66, 1, 987-987, 2011
28aTH-1 カーボン原子にアシストされた金アトミックチェーンの生成(28aTH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長)) 大島 義文, 久留井 慶彦, Huy Nguyen Duy, 小野 倫也, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 66, 1, 943-943, 2011
24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長)) 金 秀鉉, 大島 義文, 澤田 英敬, 橋川 直人, 朝山 匡一郎, 近藤 行人, 竹口 雅樹, 中山 佳子, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 65, 2, 847-847, 2010
25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン)) 金 スヒョン, 大島 義文, 澤田 英敬, 橋川 直人, 朝山 匡一郎, 近藤 行人, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 65, 2, 920-920, 2010
25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン)) 竹下 茜, 田中 崇之, 日比野 紘大, 沢田 英敬, 近藤 行人, 久保田 忠弘, 三宅 秀人, 大島 義文, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 65, 2, 920-920, 2010
Detection of arsenic dopant atoms in a silicon crystal using a spherical aberration corrected scanning transmission electron microscope Y. Oshima, Y. Hashimoto, Y. Tanishiro, K. Takayanagi, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, N. Hashikawa, K. Asayama
PHYSICAL REVIEW B, 81, 3, 035317-, 2010
Detection of arsenic dopant atoms in a silicon crystal using a spherical aberration corrected scanning transmission electron microscope Y. Oshima, Y. Hashimoto, Y. Tanishiro, K. Takayanagi, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, N. Hashikawa, K. Asayama
PHYSICAL REVIEW B, 81, 3, 035317-, 2010
26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性) 大島 義文, 橋本 豊, 澤田 英敬, 橋川 直人, 朝山 匡一郎, 近藤 行人, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 64, 2, 870-870, 2009
26aYH-1 引っ張り過程における金<111>, <100>コンタクトの構造とコンダクタンス(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長) 大島 義文, 久留井 慶彦, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 64, 2, 811-811, 2009
Highly Stable 300kV Cold Field Emission Gun for 50pm Resolution Electron Microscopy T. Tomita, Y. Tanishiro, T. Miyata, H. Sawada, F. Hosokawa, T. Kaneyama, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Ohshima, N. Yamamoto, K. Takayanagi
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 15, 1084-1085, 2009
Measurement method of aberration from Ronchigram by autocorrelation function H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi
ULTRAMICROSCOPY, 108, 11, 1467-1475, 2008
Measurement method of aberration from Ronchigram by autocorrelation function H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi
ULTRAMICROSCOPY, 108, 11, 1467-1475, 2008
24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長) 橋本 豊, 大島 義文, 谷城 康眞, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 63, 1, 879-879, 2008
24pXK-7 金の複数原子鎖における整数量子化(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長) 久留井 慶彦, 大島 義文, 岡本 政邦, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 62, 2, 968-968, 2007
Achieving 63pm resolution in scanning transmission electron microscope with spherical aberration corrector Hidetaka Sawada, Fumio Hosokawai, Toshikatsu Kaneyama, Toshihiro Ishizawa, Mitsuhisa Terao, Muneyuki Kawazoe, Takumi Sannomiya, Takeshi Tomita, Yukihito Kondo, Takayuki Tanaka, Yoshifumi Oshima, Yasumasa Tanishiro, Naoki Yamamoto, Kunio Takayanagi
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS, 46, 20-24, L568-L570, 2007
Achieving 63pm resolution in scanning transmission electron microscope with spherical aberration corrector Hidetaka Sawada, Fumio Hosokawai, Toshikatsu Kaneyama, Toshihiro Ishizawa, Mitsuhisa Terao, Muneyuki Kawazoe, Takumi Sannomiya, Takeshi Tomita, Yukihito Kondo, Takayuki Tanaka, Yoshifumi Oshima, Yasumasa Tanishiro, Naoki Yamamoto, Kunio Takayanagi
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS, 46, 20-24, L568-L570, 2007
20pWH-9 フラーレン振動による電気伝導の直接観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長) 大島 義文, 久留井 康彦, 吉田 誠, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 62, 1, 917-917, 2007
20pWH-1 金[110]ナノワイヤのコンダクタンス定量解析(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長) 久留井 慶彦, 大島 義文, 岡本 政邦, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 62, 1, 915-915, 2007
ナノ現象の顕微研究
大島義文, 谷城康眞, 近藤行人, 高柳邦夫
応用物理, 75, 3, 309-313, 2006
27aYF-5 金ヘリカル多層ナノチューブの安定構造(27aYF 表面ナノ構造量子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野)) 大島 義文, 恩賀 明子, 毛利 啓之介, 平山 博之, 高柳 邦夫
日本物理学会講演概要集, 57, 1, 866-866, 2002
Improved emitter-base junction with In2O3 in dielectric-base transistor T Hato, H Takauchi, A Yoshida, H Tamura, N Fujimaki, Y Oshima, N Yokoyama
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 34, 12A, 6379-6381, 1995
Improved emitter-base junction with In2O3 in dielectric-base transistor T Hato, H Takauchi, A Yoshida, H Tamura, N Fujimaki, Y Oshima, N Yokoyama
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 34, 12A, 6379-6381, 1995
微粒子の相転移 大島義文, 高柳邦夫
固体物理, 28, 12, 65-70, 1993
High-resolution electron microscopy of fine particles
yoshifumi oshima
Microsc.Microanal.Microstruct., 4, 297-304, 1993
微粒子の臨界現象 大島義文
数理科学, 352, 10, 56-59, 1992