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TOMITORI, Masahiko Adviser to the President, Professor, Director of Applied Physics Area
School of Materials Science, Applied Physics Area

Misc

45 items
その場TEM法による金属ナノ接点の力学測定
大島 義文, 石塚 慧介, 張 家奇, 富取 正彦, 新井 豊子
顕微鏡, 56, 1, 13-17, 2021
シナジェティックSPM —SPM動作原理に基づく革新に向けて—
富取正彦
顕微鏡, 56, 1, 2-2, 2021
長辺振動水晶振動子を組み込んだTEMによるAuナノワイヤの特異的力学特性の観察
小堀雄稀, 石塚慧介, 見寺悠伽, 富取正彦, 新井豊子, 大島義文
日本表面真空学会学術講演会講演要旨集, 2018, 197-, 2018
周波数変調原子間力顕微鏡法を用いたナノ接点の力学特性測定の研究
見寺悠伽, 石塚慧介, 小堀雄稀, 大島義文, 富取正彦, 新井豊子
日本表面真空学会学術講演会講演要旨集, 2018, 201-, 2018
FM‐AFMを利用した金ナノ接点の電気伝導と力学特性の相関解析
見寺悠伽, 村上拓, 橋本遼太, 石塚慧介, 大島義文, 富取正彦, 新井豊子
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 79th, ROMBUNNO.19a‐143‐8-, 2018
金接点弾性のシングルナノスケールでの特異的寸法依存性
石塚慧介, 村上拓, 大島義文, 富取正彦, 新井豊子
日本物理学会講演概要集(CD-ROM), 73, 1, ROMBUNNO.24pK602‐1-, 2018
シングルナノスケールにおける金接点弾性の寸法効果
石塚慧介, 村上拓, 富取正彦, 新井豊子, 大島義文
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 65th, ROMBUNNO.19p‐F214‐10-, 2018
FM‐AFMを利用した金ナノ接点の電気伝導度とバネ定数の相関解析
見寺悠伽, 村上拓, 石塚慧介, 大島義文, 富取正彦, 新井豊子
日本物理学会北陸支部定例学術講演会講演予稿集(Web), 2018, ROMBUNNO.D‐a1 (WEB ONLY)-, 2018
真空環境を離れて原子分解能へ —SPMの最近の進歩—
富取正彦
顕微鏡, 56, 2, 66-66, 2016
A Special Section on Nano-Bio Materials and Systems
S. G. Ansari, Z. A. Ansari, Masahiko Tomitori, Toyoko Arai, Toshinari Yamazaki, Sung Ha Park, Suresh Gosavi
SCIENCE OF ADVANCED MATERIALS, 4, 1, 93-95, 2012
Principles and Topics of Scanning Probe Microscopy for Nanoscale Evaluation
富取正彦
色材協会誌, 83, 5, 233-239, 2010
表面の原子・電子構造(STM・AFM)
富取正彦
電子顕微鏡大学講義テキスト, 18th, 180-194, 2008
走査型トンネル分光法の基礎
富取正彦
顕微鏡, 43, 1, 46-49, 2008
Preface
NanoScience and Technology, -, 2008
Special issue - Scanning probe microscopy - Foreword
H Onishi, M Fujihira, S Hasegawa, M Kageshima, K Kobayashi, S Morita, O Nishikawa, A Sakai, T Takahashi, H Tokumoto, M Tsukada, M Yoshimura, H Asahi, K Fukui, A Ikai, A Kawazu, T Komeda, K Nakajima, K Oura, H Shigekawa, O Takeuchi, M Tomitori, K Uozumi
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS, 44, 7B, -, 2005
In-situ preparation of noncontact AFM tips for surface force spectroscopy
T. Arai, M. Tomitori
The proceedings of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy (APEM8), 8, 204-205, 2004
Special issue - Scanning Probe Microscopy
H Onishi, M Fujihira, S Hosoki, A Kawazu, S Morita, K Oura, H Shigekawa, M Tomitori, K Uozumi, H Asahi, S Hasegawa, A Ikai, K Kobayashi, O Nishikawa, A Sakai, H Tokumoto, M Tsukada, M Yoshimura
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 41, 7B, VIII-VIII, 2002
Applicability and limitation of scanning probe microscopies for catalytic materials
M. Tomitori, T. Arai
"Micro-kinetics and dynamics of individual active sites in catalytic reactions", 138-145, 2001
Possibility and limitation of the apparatus and techniques for scanning tunneling microscopy.
富取正彦, 新井豊子
応用物理, 69, 4, 435-438, 2000
A scanning tip suitable for STM/STS.
富取正彦
電子顕微鏡, 34, 2, 147-149, 1999
走査型トンネル顕微鏡(STM・AFM)
富取正彦
電子顕微鏡大学講義テキスト, 9th, 158-172, 1999
Scanning Tunneling Microscope and Related Techniques.
富取正彦
ぶんせき, 5, 358-363, 1998
Scanning tunneling microscope (STM AFM).
富取正彦
電子顕微鏡大学講義テキスト, 8th, 160-174, 1998
Research on atom discrimination of heterolayer surface by atomic resolution tunneling spectroscopy. Fiscal 1995-1997. (Ministry of Education S).
富取正彦
原子分解トンネル分光法によるヘテロ層表面の原子識別の研究 平成7-9年度 No.07405003, 68P-, 1998
Scanning tunnel microscope (STM AFM).
富取正彦
電子顕微鏡大学講義テキスト, 7th, 176-190, 1997
Scanning tunneling microscope (STM AFM).
富取正彦
電子顕微鏡大学講義テキスト, 6th, 174-188, 1996
Development of an atom transfer mechanism between ultramicro regions. Fiscal year 1995. (the Ministry of Education).
富取正彦
極微領域間原子移送機構の開発 平成7年度 No.05555007, 61P-, 1996
Scanning Tunneling Microscopy(STM). Application for Material Science. Ge on Si.
富取正彦
日本結晶学会誌, 35, 2, 117-119, 1993
MECHANICAL AND ELECTRICAL-PROPERTIES OF ALKYLTHIOL MONOLAYERS ON AU(111) THIN-FILMS
M SALMERON, A FOLCH, M TOMITORI, G NEUBAUER, W KOLBEL, DF OGLETREE
ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, 203, 331-COLL, 1992
Ultra-high vacuum scanning tunneling microscope.
富取正彦, 西川治
応用物理, 61, 3, 279-280, 1992
Establishment of a scanning probe fabrication technique for SXM with the microscopic search region.( Sponsor : Ministry of Education )
富取正彦
極微探索領域をもつSXM用走査探針製作法の確立 平成3年度 No.02555004, 33P-, 1992
STM STUDY OF EPITAXIAL-GROWTH OF GE ON SI(001)
F IWAWAKI, M TOMITORI, O NISHIKAWA
SURFACE SCIENCE, 253, 1-3, L411-L416, 1991
TUNNELING MICROSCOPIES - FEM, FEES, FIM, A-P, STM, STS
O NISHIKAWA, M TOMITORI, F IWAWAKI
ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, 202, 97-PHYS, 1991
STM observation of semiconductor surfaces and evaluation of scanning tips.
富取正彦, 西川治
応用物理, 57, 12, 1907-1911, 1988