Compendium of Surface and Interface Analysis
富取正彦, 共著, Chapter 5 Atom probe field ion microscope , Springer, 978-981-10-6156-1, 2018
Biomimetics and industrial applications
Bhushan Bharat, Fuchs H. (Harald), 富取 正彦, Springer, 978-3-540-74084-1, 2008
In-situ scanning electron microscopy observation of lead dendrites grown in an electrochemical cell
Gada He, Yoshifumi Oshima, Masahiko Tomitori
第80回応用物理学秋期学術講演会, 2019/09/18
Mechanical properties of Pt atomic chain measured by TEM combined with a frequency-modulation force sensing system
Jiaqi Zhang, Yuki Kobori, Keisuke Ishizuka, Masahiko Tomitori, Toyoko Arai, Yoshifumi Oshima
第80回応用物理学秋期学術講演会, 2019/09/18
FM-AFM/TEM法によるAuナノ接点の力学・構造同時計測
石塚慧介、小堀雄稀、見寺悠伽、富取正彦、新井豊子、大島義文
第80回応用物理学秋期学術講演会, 2019/09/18
nc-AFM/STM用音叉型水晶振動子力センサーのための金属探針の作製と評価
新井豊子、笈田浩平、丸山天悟、富取正彦
第80回応用物理学秋期学術講演会, 2019/09/18
nc-AFMで検出するGe/Si(111)表面原子とSi探針間に働く科学結合力と散逸エネルギー
新井豊子、辻繁樹、藏大輝、敷地汰一、富取正彦
第80回応用物理学秋期学術講演会, 2019/09/18